仪器基本信息

仪器固定资产编号

0134

仪器中文名称

扫描探针显微镜

仪器型号

MultiMode Nanoscope Ⅲa

所属机构

汕头大学分析测试中心

厂   家

美国维易科（Veeco）精密仪器有限公司

仪器英文名称（包含英文缩写）

Scanning Probe Microscope

厂商国家或地区

美国

产地国家或地区

美国

技术指标

最大水平扫描范围： 125mm×125mm

最大垂直扫描范围： 5mm

最高水平分辨率： 0.1nm

最高Z方向分辨率： 0.01nm

最大扫描点数： 1000x1000

放大倍数： 100万倍

功能及特点

可在液体中、升温等条件下对高分子材料、无机材料、金属材料的微观形貌分析;可以进行扫描隧道显微镜、磁力显微镜、静电力显微镜的样品形貌特性分析。